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分析展 2010
９月１日から開催される
「分析展2010/科学機器展2010（2010JAIMA SHOW ）」に
協和界面科学とマイクロテック ・ニチオンが今年も共同ブースで出展いたします。
接触角測定をはじめとする表面・界面測器に絶大な強みのある協和界面科学と、画像解析型の独特な粒径測定・ゼータ電位測定を提供するマイクロテック・ニチオンの２社共同出展により『表面・界面・粒子の計測と分析』を総合的にご提案が可能なブース(No. 5B-506)となっております。
みなさまのご来場をお待ちしております。
2010年07月20日 10:31
後記事： 新技術説明会 見える粒子計測による分散安定性評価 〜ゼータ電位と粒径分布〜
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