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新技術説明会 見える粒子計測による分散安定性評価 〜ゼータ電位と粒径分布〜
日時：9月2日（木曜日） 15：50〜16：15
株式会社マイクロテック・ニチオンでは、分析展２０１０ 新技術説明会で「見える粒子計測による分散安定性評価 〜ゼータ電位と粒径分布〜」と題して粒子観察に適した光学系と画像解析を用いたゼータ電位・粒径分布測定機 ZEECOMの紹介を測定の事例とともにご紹介いたします。
★ 入場無料
（当日、分析展２０１０への入場登録をお済ませのうえ、直接説明会場までご来場下さい。）
★ 定員１００名様まで
（定員を超えた場合にはご入場できません。お早めにご来場下さい。）
チラシのダウンロードはこちら↓
2010新技術説明会.pdf
2010年08月06日 10:59
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