マイクロテック・ニチオンの製品情報をご紹介します。

ゼータ電位・粒径分布測定装置

粒子観察

　ZEECOMでは粒子の認識・追尾に特化させた光学系を搭載しており、光源を使い分けることで通常の光学顕微鏡に比べ、幅広い粒子に対しての観察が可能となっています。また、粒子をモニター上に認識することが出来れば測定可能であるというシンプルな基準を持っており、測定の可否を容易に判断することができます。

一般的な光学顕微鏡と同様に、透過光による測定も可能です。粒子形状の観察や、スケール値からの粒径計測を行うことができます。1μm以上の一般にゼータ電位測定が難しい粒子や凝集塊の形成の様子なども可能です。

粒子は散乱光に埋もれてしまい直接の形状確認はできませんが異形粒子や凝集塊では散乱光にちらつきが発生します。これは粒子の回転による散乱光の強度変化によるものです。また散乱光の強度は同一の材質であれば粒子サイズによって変化し、画面上のピクセル数から相対的な粒子サイズを確認することができます。

強力なレーザー光を照射することでより微細な粒子の観察を行うことができます。観察下限は粒子の反射係数に依存しますがこの光源では、レイリー散乱を起こす、ごく微小な粒子の観察も可能であり、数十ナノメートルの粒子の測定も行うことができます。

標準仕様では観察や測定が難しいサンプルに対しては、オプションとして光源やレンズなどの光学系を変更することが出来ます。光学部品の交換や追加以外にもご要望に応じたカスタマイズにも対応いたします。

貴金属コロイドは青色レーザー光源（オプション）を使用することで20 nm付近まで観察可能です。

　粒子観察動画リストで、様々な観察例を紹介しています。

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